Number of the records: 1
Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement
Title Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement Author info Numan M. Durakbasa, Pinar Demircioglu, Mehmet Cakmakci, Adriana Horníková Author Durakbasa Numan M. Co-authors Demircioglu Pinar Cakmakci Mehmet Horníková Adriana EUBFHIKSA - Katedra štatistiky FHI Source document 6th Nanoscience and Nanotechnology Conference : NANOTR - VI, Izmir, June 15 -18, 2010. S. 154 [0,013 AH]. - Izmir : Izmir Institute of Technology, 2010 Document kind schedule of articles from year books Language English Country of Edition Turkey systematics 001.894/.895 - Vynálezy. Objavy. Zlepšenie. Inovácia Keywords proces výrobný * kvalita * kvalita tovaru * meranie * kontrola kvality * nanotechnológie Annotation Presná povrchová úprava vo výrobnom procese a využitie nových technológií. Vysoká presnosť. Meranie, hodnotenie a kontrola kvality povrchovej úpravy. Hlavné parametre determinujúce vhodnosť technickej časti. Využívanie vhodných materiálov. Public work category Reports at international scientific conferences Database PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ No. of Archival Copy E10 00827-001, kópia plného textu
article
Number of the records: 1