1. Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement
Title | Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement |
---|---|
Author info | Numan M. Durakbasa, Pinar Demircioglu, Mehmet Cakmakci, Adriana Horníková |
Author | Durakbasa Numan M. |
Co-authors | Demircioglu Pinar |
Cakmakci Mehmet | |
Horníková Adriana EUBFHIKSA - Katedra štatistiky FHI | |
Source document | 6th Nanoscience and Nanotechnology Conference : NANOTR - VI, Izmir, June 15 -18, 2010. S. 154 [0,013 AH]. - Izmir : Izmir Institute of Technology, 2010 |
Document kind | schedule of articles from year books |
Language | English |
Country of Edition | Turkey |
systematics | 001.894/.895 - Vynálezy. Objavy. Zlepšenie. Inovácia |
Keywords | proces výrobný * kvalita * kvalita tovaru * meranie * kontrola kvality * nanotechnológie |
Annotation | Presná povrchová úprava vo výrobnom procese a využitie nových technológií. Vysoká presnosť. Meranie, hodnotenie a kontrola kvality povrchovej úpravy. Hlavné parametre determinujúce vhodnosť technickej časti. Využívanie vhodných materiálov. |
Public work category | Reports at international scientific conferences |
Database | PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ |
No. of Archival Copy | E10 00827-001, kópia plného textu |