Počet záznamov: 1
A unified density gradient approach to ‘ab-initio’ ionised impurity scattering in 3D MC simulations of nano-CMOS variability
Názov A unified density gradient approach to ‘ab-initio’ ionised impurity scattering in 3D MC simulations of nano-CMOS variability Autorské údaje Alexander Craig, Urban Kováč, Gareth Roy, Scott Roy, Asen Asenov Autor Craig Alexander Spoluautori Kováč Urban EUBFNHKFI - Katedra financií FNH Roy Gareth Roy Scott Asenov Asen Zdrojový dokument ULIS 2009 : 10th International conference on ULtimate Integration of Silicon, Aachen, 18-20 march, 2009. S. 43-46. - USA : IEEE, 2009. ISBN 978-1-4244-3705-4 Druh dokumentu rozpis článkov zo zborníkov Jazyk dokumentu angličtina Krajina vydania Spojené štáty URL http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=4897535 Kategória EPC Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Báza dát PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ Archív EPC E10 01515-001, kópia plného textu
článok
Počet záznamov: 1