Počet záznamov: 1
Modeling and simulation of transistor and circuit variability and reliability
Názov Modeling and simulation of transistor and circuit variability and reliability Autorské údaje Asen Asenov, Binjie Cheng, D. Dideban, Urban Kováč, N. Moezi, Campbell Millar, Gareth Roy, Adrew R. Brown, Scott Roy Autor Asenov Asen Spoluautori Cheng Binjie Dideban D. Kováč Urban EUBFNHKFI - Katedra financií FNH Moezi N. Millar Campbell Roy Gareth Brown Adrew R. Roy Scott Zdrojový dokument Custom Integrated Circuits Conference (CICC) : 32nd annual CICC : San Jose, CA, September 19-22, 2010. S. [1-8]. - New York : IEEE, 2010. ISBN 978-1-4244-5760-1 Druh dokumentu rozpis článkov zo zborníkov Jazyk dokumentu angličtina Krajina vydania Spojené štáty URL http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=05617627 Kategória EPC Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Báza dát PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ Archív EPC E10 01522-001, kópia plného textu
článok
Počet záznamov: 1