Počet záznamov: 1
Advanced simulation of statistical variability and reliability in nano CMOS transistors
Názov Advanced simulation of statistical variability and reliability in nano CMOS transistors Autorské údaje Asen Asenov, Scott Roy, Adrew R. Brown, Gareth Roy, Craig Alexander, Craig Riddet, Campbell Millar, Binjie Cheng, Antonio Martinez, Natalia Seoane, Dave Reid, M.F. Bukhori, X. Wang, Urban Kováč Autor Asenov Asen Spoluautori Roy Scott Brown Adrew R. Roy Gareth Alexander Craig Riddet Craig Millar Campbell Cheng Binjie Martinez Antonio Seoane Natalia Reid Dave Bukhori M.F. Wang X. Kováč Urban EUBFNHKFI - Katedra financií FNH Zdrojový dokument IEEE International electron devices meeting 2008 : San Francisco, CA, December 15-17, 2008. - New York : IEEE, 2008. ISBN 978-1-4244-2377-4 Druh dokumentu rozpis článkov zo zborníkov Jazyk dokumentu angličtina Krajina vydania Spojené štáty URL http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=4796712&tag=1 Kategória EPC Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Báza dát PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ Archív EPC E08 01853-001, kópia plného textu
článok
Počet záznamov: 1