Vytlačiť
1. A unified density gradient approach to ‘ab-initio’ ionised impurity scattering in 3D MC simulations of nano-CMOS variability
Názov | A unified density gradient approach to ‘ab-initio’ ionised impurity scattering in 3D MC simulations of nano-CMOS variability |
---|---|
Autorské údaje | Alexander Craig, Urban Kováč, Gareth Roy, Scott Roy, Asen Asenov |
Autor | Craig Alexander |
Spoluautori | Kováč Urban EUBFNHKFI - Katedra financií FNH |
Roy Gareth | |
Roy Scott | |
Asenov Asen | |
Zdrojový dokument | ULIS 2009 : 10th International conference on ULtimate Integration of Silicon, Aachen, 18-20 march, 2009. S. 43-46. - USA : IEEE, 2009. ISBN 978-1-4244-3705-4 |
Druh dokumentu | rozpis článkov zo zborníkov |
Jazyk dokumentu | angličtina |
Krajina vydania | Spojené štáty |
URL | http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=4897535 |
Kategória EPC | Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách |
Báza dát | PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ |
Archív EPC | E10 01515-001, kópia plného textu |