Vytlačiť
1. Advanced simulation of statistical variability and reliability in nano CMOS transistors
Názov | Advanced simulation of statistical variability and reliability in nano CMOS transistors |
---|---|
Autorské údaje | Asen Asenov, Scott Roy, Adrew R. Brown, Gareth Roy, Craig Alexander, Craig Riddet, Campbell Millar, Binjie Cheng, Antonio Martinez, Natalia Seoane, Dave Reid, M.F. Bukhori, X. Wang, Urban Kováč |
Autor | Asenov Asen |
Spoluautori | Roy Scott |
Brown Adrew R. | |
Roy Gareth | |
Alexander Craig | |
Riddet Craig | |
Millar Campbell | |
Cheng Binjie | |
Martinez Antonio | |
Seoane Natalia | |
Reid Dave | |
Bukhori M.F. | |
Wang X. | |
Kováč Urban EUBFNHKFI - Katedra financií FNH | |
Zdrojový dokument | IEEE International electron devices meeting 2008 : San Francisco, CA, December 15-17, 2008. - New York : IEEE, 2008. ISBN 978-1-4244-2377-4 |
Druh dokumentu | rozpis článkov zo zborníkov |
Jazyk dokumentu | angličtina |
Krajina vydania | Spojené štáty |
URL | http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=4796712&tag=1 |
Kategória EPC | Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách |
Báza dát | PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ |
Archív EPC | E08 01853-001, kópia plného textu |