Vytlačiť
1. Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement
| Názov | Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement |
|---|---|
| Autorské údaje | Numan M. Durakbasa, Pinar Demircioglu, Mehmet Cakmakci, Adriana Horníková |
| Autor | Durakbasa Numan M. |
| Spoluautori | Demircioglu Pinar |
| Cakmakci Mehmet | |
| Horníková Adriana EUBFHIKSA - Katedra štatistiky FHI | |
| Zdrojový dokument | 6th Nanoscience and Nanotechnology Conference : NANOTR - VI, Izmir, June 15 -18, 2010. S. 154 [0,013 AH]. - Izmir : Izmir Institute of Technology, 2010 |
| Druh dokumentu | rozpis článkov zo zborníkov |
| Jazyk dokumentu | angličtina |
| Krajina vydania | Turecko |
| Systematika | 001.894/.895 - Vynálezy. Objavy. Zlepšenie. Inovácia |
| Heslá | proces výrobný * kvalita * kvalita tovaru * meranie * kontrola kvality * nanotechnológie |
| Anotácia | Presná povrchová úprava vo výrobnom procese a využitie nových technológií. Vysoká presnosť. Meranie, hodnotenie a kontrola kvality povrchovej úpravy. Hlavné parametre determinujúce vhodnosť technickej časti. Využívanie vhodných materiálov. |
| Kategória EPC | Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách |
| Báza dát | PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ |
| Archív EPC | E10 00827-001, kópia plného textu |