Vytlačiť
1. Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement
Názov | Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement |
---|---|
Autorské údaje | Numan M. Durakbasa, Pinar Demircioglu, Mehmet Cakmakci, Adriana Horníková |
Autor | Durakbasa Numan M. |
Spoluautori | Demircioglu Pinar |
Cakmakci Mehmet | |
Horníková Adriana EUBFHIKSA - Katedra štatistiky FHI | |
Zdrojový dokument | 6th Nanoscience and Nanotechnology Conference : NANOTR - VI, Izmir, June 15 -18, 2010. S. 154 [0,013 AH]. - Izmir : Izmir Institute of Technology, 2010 |
Druh dokumentu | rozpis článkov zo zborníkov |
Jazyk dokumentu | angličtina |
Krajina vydania | Turecko |
Systematika | 001.894/.895 - Vynálezy. Objavy. Zlepšenie. Inovácia |
Heslá | proces výrobný * kvalita * kvalita tovaru * meranie * kontrola kvality * nanotechnológie |
Anotácia | Presná povrchová úprava vo výrobnom procese a využitie nových technológií. Vysoká presnosť. Meranie, hodnotenie a kontrola kvality povrchovej úpravy. Hlavné parametre determinujúce vhodnosť technickej časti. Využívanie vhodných materiálov. |
Kategória EPC | Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách |
Báza dát | PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ |
Archív EPC | E10 00827-001, kópia plného textu |