Počet záznamov: 1  

Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement

  1. Názov Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement
    Autorské údajeNuman M. Durakbasa, Pinar Demircioglu, Mehmet Cakmakci, Adriana Horníková
    Autor Durakbasa Numan M.
    Spoluautori Demircioglu Pinar
    Cakmakci Mehmet
    Horníková Adriana EUBFHIKSA - Katedra štatistiky FHI
    Zdrojový dokument6th Nanoscience and Nanotechnology Conference : NANOTR - VI, Izmir, June 15 -18, 2010. S. 154 [0,013 AH]. - Izmir : Izmir Institute of Technology, 2010 Grafy
    PoznámkyRes. angl. Bibliogr. odkazy
    Druh dokumenturozpis článkov zo zborníkov
    Jazyk dokumentuangličtina
    Krajina vydaniaTurecko
    Systematika 001.894/.895 - Vynálezy. Objavy. Zlepšenie. Inovácia
    Heslá proces výrobný * kvalita * kvalita tovaru * meranie * kontrola kvality * nanotechnológie
    AnotáciaPresná povrchová úprava vo výrobnom procese a využitie nových technológií. Vysoká presnosť. Meranie, hodnotenie a kontrola kvality povrchovej úpravy. Hlavné parametre determinujúce vhodnosť technickej časti. Využívanie vhodných materiálov.
    Kategória EPCPublikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    Báza dátPUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ
    Archív EPCE10 00827-001, kópia plného textu

    článok

    článok

    Do košíka