Počet záznamov: 1
Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement
Názov Nanometrology, evaluation techniques and quality control for high accurancy surface measurement Autorské údaje Numan M. Durakbasa, Pinar Demircioglu, Mehmet Cakmakci, Adriana Horníková Autor Durakbasa Numan M. Spoluautori Demircioglu Pinar Cakmakci Mehmet Horníková Adriana EUBFHIKSA - Katedra štatistiky FHI Zdrojový dokument 6th Nanoscience and Nanotechnology Conference : NANOTR - VI, Izmir, June 15 -18, 2010. S. 154 [0,013 AH]. - Izmir : Izmir Institute of Technology, 2010 Druh dokumentu rozpis článkov zo zborníkov Jazyk dokumentu angličtina Krajina vydania Turecko Systematika 001.894/.895 - Vynálezy. Objavy. Zlepšenie. Inovácia Heslá proces výrobný * kvalita * kvalita tovaru * meranie * kontrola kvality * nanotechnológie Anotácia Presná povrchová úprava vo výrobnom procese a využitie nových technológií. Vysoká presnosť. Meranie, hodnotenie a kontrola kvality povrchovej úpravy. Hlavné parametre determinujúce vhodnosť technickej časti. Využívanie vhodných materiálov. Kategória EPC Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Báza dát PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ Archív EPC E10 00827-001, kópia plného textu
článok
Počet záznamov: 1