Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 2  
Vaša otázka: Vydavateľ = "IEEE Electron Devices Society"
  1. KOVÁČ, Urban et al. Hierarchical Simulation of Statistical Variability : From 3-D MC with "Ab Initio” Ionized Impurity Scattering to Statistical Compact Models. In IEEE Transactions on Electron Devices. - New York : IEEE Electron Devices Society. ISSN 1557-9646, 2010, vol. 57, no. 10, s. 2418-2426. Dostupné na : <http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5551189>
    článok

    článok

  2. IEEE Transactions on Electron Devices. - Registrovaný: Current Contents Connect, Registrovaný: Web of Science, Registrovaný: Scopus. New York : IEEE Electron Devices Society. 12x ročne. ISSN 1557-9646. Dostupné na : https://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=16
    časopis

    časopis



  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.