Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 3  
Vaša otázka: Autor-kód záznamu = "^eu_un_auth 0037770^"
  1. BROWN, Adrew R. et al. Use of Density Gradient Quantum Corrections in the Simulation of Statistical Variability in MOSFETs. - Registrovaný: SCOPUS, Registrovaný: Web of Science. In Journal of computational electronics. - [USA] : SpringerLink, 2010. ISSN 1572-8137, december 2010, vol. 9, no. 3-4, s. 187-196. Dostupné na : <http://www.springerlink.com/content/w416x1185g525672/fulltext.pdf>
    článok

    článok

  2. ASENOV, Asen et al. Simulation of Statistical Variability in Nano-CMOS Transistors Using Drift-diffusion, Monte Carlo and Non-equilibrium Green's Function Techniques. In Journal of computational electronics. - [USA] : SpringerLink, 2009. ISSN 1572-8137, october 2009, vol. 8, no. 3-4, s. 349-3723. Dostupné na : <http://www.springerlink.com/content/16664q8604ng7qqu>
    článok

    článok

  3. CRAIG, Alexander et al. A unified density gradient approach to ‘ab-initio’ ionised impurity scattering in 3D MC simulations of nano-CMOS variability. In ULIS 2009 : 10th International conference on ULtimate Integration of Silicon, Aachen, 18-20 march, 2009. - USA : IEEE, 2009. ISBN 978-1-4244-3705-4, s. 43-46. Dostupné na : <http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=4897535>
    článok

    článok



  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.