Výsledky vyhľadávania
Vaša otázka:
Hlavný názov = "Statistical Simulation of Random Dopant Induced Threshold Voltage Fluctuations for 35 nm Channel Length MOSFET"
Nenašli ste?
Ďalšie možnosti
Hľadať na portáli projektu KIS3G
Hľadať na portáli Slovenská knižnica
Hľadať vo všetkých poliach
Zopakovať hľadanie a hľadať vo všetkých poliach.
Zdroje
Hľadať v iných zdrojoch.
Hľadať vo Wikipédii
Hľadať vo webovej encyklopédii Wikipédia.
Hľadať na Google Books
Hľadať v databáze kníh na Google.
Napíšte nám
Využiť formulár pre poslanie správy.
Moje SDI
Zasielanie noviniek (SDI).